کتاب طیف‌سنجی الکترونی اوژه: کاربردهای عملی در آنالیز مواد و سطوح Auger Electron Spectroscopy: Practical Application to Materials Analysis and Characterization of Surfaces, Interfaces, and Thin Films

کتاب طیف‌سنجی الکترونی اوژه: کاربردهای عملی در آنالیز مواد و سطوح، نوشته John Wolstenholme در مورد استفاده از طیف‌سنجی الکترون اوژه (AES) و میکروسکوپی اسکن اوژه برای مشخص کردن مواد فناورانه مختلف از جمله فلزات و آلیاژها، نیمه‌ها، نانوساختارها و عایق‌ها صحبت می‌کند. طیف‌سنجی الکترونی اوژه به عنوان یک ابزار برای تصویربرداری عنصری با رزولوشن بالا و تعیین عمق ترکیبی مورد استفاده قرار می‌گیرد و کاربرد این تکنیک برای به دست آوردن اطلاعات ترکیبی از سطوح و ساختارهای فیلم نازک مواد استفاده می‌شود. این کتاب همچنین اصول فیزیکی اساسی AES را به زبان ساده و به صورت کیفی توضیح می‌دهد. اجزای اصلی طیف‌سنج‌های آگر نیز توضیح داده شده‌اند.